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LQ-TH-700-可編程調溫調濕實驗箱 恒溫恒濕試驗箱

作者:CEO 時間:2023-01-14 點擊:0

信息摘要:可編程調溫調濕實驗箱主要通過控制箱內加溫,加濕,制冷,除濕幾部分組成,通過循環(huán)風道上出風下回風的循環(huán)方式對箱內空氣流動控制,平衡箱內溫,濕度。由內置溫濕度傳感器采集箱內溫濕度數(shù)據(jù)反饋至溫控儀表,溫控儀表根據(jù)所設定的溫濕度點,下達需調溫調濕指令給中心處理器PLC,開啟相應的調溫調溫供給系統(tǒng)實現(xiàn)箱

LQ-TH-700-可編程調溫調濕實驗箱 恒溫恒濕試驗箱

LQ-TH-700-可編程調溫調濕實驗箱 恒溫恒濕試驗箱

  可編程調溫調濕實驗箱主要通過控制箱內加溫,加濕,制冷,除濕幾部分組成,通過循環(huán)風道上出風下回風的循環(huán)方式對箱內空氣流動控制,平衡箱內溫,濕度。由內置溫濕度傳感器采集箱內溫濕度數(shù)據(jù)反饋至溫控儀表,溫控儀表根據(jù)所設定的溫濕度點,下達需調溫調濕指令給中心處理器PLC,開啟相應的調溫調溫供給系統(tǒng)實現(xiàn)箱內溫濕度平衡。

  產品用途:

  可程式恒溫恒濕試驗箱主要用于檢測材料在耐熱、耐寒、耐干、耐濕等環(huán)境下的性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。

  滿足標準:

  GB/T5170.5-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗

  GB/T-2006《濕熱試驗箱技術條件》

  GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗A

  GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗試驗B:高溫基本信息

  GB-T2423.3-2006電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法

  GB/T2423.4-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db

  可編程調溫調濕實驗箱的技術參數(shù):

  溫度范圍:

  A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,

  D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃

  溫度精度:±0.01℃

  溫度波動度:±0.5℃

  溫度均勻度:±2.0℃

  濕度范圍:20%RH~98%RH

  濕度精度:±0.1%R.H

  濕度波動度:±2.0%R.H.

  濕度均勻度:±3%R.H.

  升溫速率:平均3℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃升至+85℃約20min);可按要求定制非標規(guī)格

  降溫速度:平均1℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃降至-40℃約65min);可按要求定制非標規(guī)格

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